El JEOL JEM GRAND ARM 300 cF es el microscopio electrónico más potente hasta la fecha, es decir, el que tiene mayor poder de resolución: es capaz de resolver distancias entre dos puntos del orden de 0.05 nm.
La Instalación Científico Tecnológica Singular (ICTS) del Centro Nacional de Microscopía Electrónica de la UCM tiene uno de los tres únicos existentes en el mundo, el segundo que se instala en Europa.
El JEOL JEM GRAND ARM 300 cFes el microscopio electrónicocon mayor poder de resolución, ya que puede resolver distancias entre dos puntos del orden de 0.05 nm. Para hacerse una idea de su potencia habría que imaginar unas gafas que permitieran ver desde aquí un garbanzo en la Luna. Esta resolución es imprescindible para el estudio de las estructuras de los materiales funcionales avanzados a escala atómica, lo que permite entender sus propiedades con un nivel de precisión hasta ahora no accesible. Es importante destacar su alta sensibilidad para la visualización de elementos ligeros tales como el oxígeno, el nitrógeno, el carbono, el litio e incluso el hidrógeno, tan importantes para el desarrollo y optimización de nuevos materiales útiles para la fabricación de dispositivos relacionados con las comunicaciones y el almacenamiento de energía.
Por otra parte, el microscopio puede operar a bajos voltajes de aceleración. Este hecho es muy importante, ya que habitualmente cuanto mayor es el voltaje de aceleración mayor es el riesgo de dañar los materiales bajo el haz de electrones. Disminuir el voltaje conlleva menor daño, pero también menor resolución. En el microscopio GRAND ARM, debido a la incorporación de un corrector de aberración en la lente objetivo, es posible disminuir el daño manteniendo la resolución atómica. De esta forma, se hace posible el estudio de materiales sensibles como el carbono (nanotubos de carbono, grafeno…) y otros como los MOFs y los mesoporosos. El microscopio está acondicionando con espectrómetros de dispersión de energía de rayos X (EDS) y de pérdida de energía de los electrones (EELS) que permiten obtener, al mismo tiempo que la imagen, información composicional.